簡要描述:Chroma致茂Model 19501-K局部放電測試器產(chǎn)品特色:·單機內(nèi)建交流耐壓測試與局部放電偵測功能·可程式交流耐壓輸出0.1kVac~10kVac·高精度及高解析度電流表0.01μA~300μA·局部放電(PD)偵測范圍1pC~2000pC·高壓接觸檢查功能(HVCC)·符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270法規(guī)測試要求
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | Chroma/致茂 |
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Chroma致茂Model 19501-K局部放電測試器產(chǎn)品特色
·單機內(nèi)建交流耐壓測試與局部放電偵測功能
·可程式交流耐壓輸出0.1kVac~10kVac
·高精度及高解析度電流表0.01μA~300μA
·局部放電(PD)偵測范圍1pC~2000pC
·高壓接觸檢查功能(HVCC)
·符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270法規(guī)測試要求
·內(nèi)建IEC60747-5-5測試方法
·量測與顯示單元分離式設(shè)計
·三段電壓測試功能
·PD測量結(jié)果數(shù)值顯示(pC)
·PD不良發(fā)生次數(shù)判定設(shè)定(1~10)
·多語系繁中/簡中/英文操作介面
·USB畫面擷取功能
·圖形化輔助編輯功能
·標準LAN、USB、RS232遠端控制介面
Chroma致茂Model 19501-K局部放電測試器內(nèi)建交流耐電壓測試(Hipot Test)與局部放電(Partial Discharge,PD)偵測功能于一單機,提供交流電壓輸出0.1kV~10kV,漏電流測量范圍0.01μA~300μA,局部放電偵測范圍1pC~2000pC,針對高壓半導(dǎo)體元件與高絕緣材料測試應(yīng)用所設(shè)計與開發(fā)。
Chroma 19501-K局部放電測試器產(chǎn)品設(shè)計符合IEC60270-1法規(guī),針對高電壓試驗技術(shù)中對局部放電測試要求,采用窄頻濾波器(Narrowband)量測技術(shù)進行PD放電量測量,并將量測結(jié)果以直觀數(shù)值(pC)顯示在螢?zāi)簧献屖褂谜咔宄髁舜郎y物測試判定結(jié)果。
產(chǎn)品設(shè)計上,除了符合IEC60270-1,同時也符合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規(guī)要求,內(nèi)建IEC60747-5-5法規(guī)之測試方法于儀器內(nèi)部,滿足光耦合器產(chǎn)品生產(chǎn)測試需求,并提供使用者便利的操作介面。
于生產(chǎn)線上執(zhí)行高壓測試時,如果待測物未能正確及良好連接測試線,將導(dǎo)致測試結(jié)果失敗甚至發(fā)生漏測的風(fēng)險,因此在測試前確保待測物與測試線良好連接是非常重要的。
Chroma高壓接觸檢查功能(High Voltage Contact Check :HVCC) 系利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之元件,于高壓輸出時同步進行接觸檢查,增加測試有效性與生產(chǎn)效率。
在固體絕緣物中含有氣隙或雜質(zhì)混合在絕緣層時,額定工作高壓狀態(tài)下,由于較高的電場強度集中于氣隙而產(chǎn)生局部放電(Partial Discharge),持續(xù)性的局部放電會長久劣化周遭絕緣材,而影響電氣產(chǎn)品之長久信賴性,而引起安全事故。
應(yīng)用于電源系統(tǒng)之安規(guī)元件,如光耦合器,因考量如果元件長時間發(fā)生局部放電對于絕緣材料的破壞,而發(fā)生絕緣失效的情況,進而引發(fā)使用者人身安全問題;因此,在IEC60747-5-5法規(guī)中提及,于生產(chǎn)過程中(Routine test) 必須100%執(zhí)行局部放電(Partial Discharae)檢測,在最大絕緣電壓條件下不能超過5pC放電量,確保產(chǎn)品在正常工作環(huán)境中不會發(fā)生局部放電現(xiàn)象。
局部放電測試器主要針對高壓光耦合器、高壓繼電器及高壓開關(guān)等高絕緣耐受力之元件,提供高壓的耐壓測試與局部放電偵測,確保產(chǎn)品品質(zhì)與提升產(chǎn)品可靠度。
局部放電意指在絕緣物體中局部區(qū)域發(fā)生放電,且未形成兩電極間的固定通道放電即稱為局部放電。
局部放電測試器對待測物施加一個特定條件下的電壓,測量其視在放電電荷量(PD),除了驗證其能否承受瞬間高電壓(Hipot Test)的能力,同時也驗證在額定工作電壓的絕緣完整性。局部放電測試能夠偵測待測物是否存在異常氣隙,透過施加一個略高于元件最高額定工作電壓的局部放電電荷測試,用以檢驗電氣元件在正常工作電壓條件下之長久可靠性,但于實際生產(chǎn)上絕緣材料內(nèi)部當然不可能無氣隙存在于絕緣材料內(nèi),故在IEC60747-5-5光耦合器法規(guī)針對局部放電測試定義其放電電荷量不能大于5pC(9pd=5pC)。
絕緣固體內(nèi)存在氣泡而產(chǎn)生局部放電說明
1.空氣的介電系數(shù)低于絕緣材介電系數(shù),因此氣泡處電場強度會大于正常絕緣時之分壓
2.空氣可承受的電場強度又低于絕緣材,容易在氣泡處產(chǎn)生氣泡放電(Void Discharge)
Ca:絕緣介質(zhì)其余部分的等效電容
Cc:氣隙等效電容
Cb:絕緣介質(zhì)與氣隙串聯(lián)部分的等效電容
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